RTC 意外恢复到初始值
1. 问题描述
客户反馈在使用 STM32F446 的产品做上电、掉电测试时，RTC 会意外恢复到配置的初始值。
2. 问题分析及解决
通过与客户邮件沟通，了解到客户的 VBAT 引脚上有独立的电池供电，在代码中当第一次启动时
会检查备份寄存器中保留的一个标志，如果是第一次运行，则会设置 RTC 的初始化，包含年月日时分
秒，如果不是，则跳过，后面只读取 RTC 内的时间信息，并不再修改。
为了使用统一的参考物，先建议客户使用 Cube 库下的官方示例代码：
STM32Cube_FW_F4_V1.25.0\Projects\STM32F446ZE-Nucleo\Examples\RTC\RTC_Calendar, 此代
码刚好可以针对此问题进行分析。 客户使用此示例代码测试问题依旧。
查看示例代码，为了排除 HSE 与 LSE 的影响，建议客户将 HSE 改为 HSI, LSE 改为 LSI，这样一
来，完全跟板上高速晶振无关，跟 32.768K 的低速也无关。客户使用修改后的代码问题依旧。
查看相关代码：
/*##-2- Check if Data stored in BackUp register1: No Need to reconfigure RTC#*/
/* Read the BackUp Register 1 Data */
if(HAL_RTCEx_BKUPRead(&RtcHandle, RTC_BKP_DR1) != 0x32F2)
{
/* Configure RTC Calendar */
RTC_CalendarConfig();
}
如上面代码所示，每次上电后会读取 BKP_DR1 的值，判断是否为第一次启动，如果是，则配置
RTC。换句话说，出现问题时，这个判断肯定出现问题，导致重复配置 RTC，也就是备份寄存器的值
丢失！是什么原因导致备份寄存器的值丢失呢？
同时我这边在 NUCLEO 板上尝试重现客户的问题，但无论如何尝试都无法重现，现在两边所使用
的测试软件一模一样，只是各自的硬件平台有所差异，看来就是这个硬件上的差异带来的问题。于是
下一步比较客户的硬件与 NUCLEO 板有何不同。
首先怀疑是 VBAT 引脚。要是 VBAT 再现异常，RTC 重新配置就很正常，但客户的 VBAT 真的会
出现问题么？下面是客户 VBAT 引脚的相关电路：
Figure 1 VBAT
外围电路
如上图所示，客户 VBAT 外部接一电池，当 VDD 有电时，VDD 将将电池充电，当 VDD 掉电时，
电池给 RTC 供电。于是向客户提出 VBAT 的在掉电上电测试过程中的波形：
Figure 2 VBAT
波形
如上图所示，VBAT 引脚的波形，在电源掉电上电的过程中并没有出现掉电的情况，也就是说，
RTC 应该会有一个稳定的电源供应。为了避免 VBAT 的影响，要客户干脆将 R8 这个电阻去掉再测
试， 结果问题依旧存在。
接下来继续查看用户 MCU 相关的原理图，发现 Vcap 引脚上的电路与 ST 官方的建议并不一致：
